DRAM

記事1件最終更新: 2026年2月9日 12:00
トピックまとめ

サムスン電子は、国際学会IEDMにおいてDRAMの微細化限界を打破するための垂直化技術(3D DRAM)に関する研究成果を発表した。従来の平面構造での微細化が物理的な限界に達しつつある中、同社はメモリセルを垂直に積み上げる構造への転換を模索している。この技術は「ビル100階建て相当」と表現されるほど極めて難易度が高い工程を伴うが、次世代のメモリ容量拡大と性能向上を実現するための鍵となる。本論文では、前人未到の領域とされる垂直化への具体的なアプローチや課題が示されており、DRAM産業が大きな技術的転換点を迎えていることを示唆している。

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サムスン電子がIEDMにてDRAMの垂直化技術(3D DRAM)に関する最新の研究成果を発表した。従来の平面的な微細化手法が限界を迎えており、メモリセルを垂直に積層する新構造への移行が不可欠となっている。垂直化の製造工程は「ビル100階建て相当」と例えられるほど、極めて難易度が高い超難工事とされる。前人未到の垂直化技術により、次世代DRAMにおける更なる大容量化と性能の向上を目指している。

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